答：比較法測量，需要配校對環規。使用校對環規進行零點校準，校對環規的尺寸與孔的小尺寸相關，如此可以確保在校準過程中極大的減小的軸向和徑向的誤差。遵循DIN2250-C標準的環規的校對環規，較大尺寸的環規或小尺寸、中間尺寸和尺寸的校對環規通常是不需要的。

塞規式測頭一般分為標準孔測頭、通孔測頭和盲孔測頭。您可以根據要測量孔的深度來確定塞規頭的形式，如果要測量位置非常靠近根部，可以選用盲孔測頭；如果是盲孔，但是不要求測點位置很低，那標準測頭就可以滿足要求；如果要測量通孔的孔口位置，選用通孔測頭。根據測量需求的不同，我們還有其他形式的測頭，如加長導向體測頭、自動測量用測頭等。
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